Data Value

Analyse des systèmes de mesure (MSA)

Par Data Value

Objectifs

Connaître toutes les méthodes statistiques pour analyser un système de mesure

Programme

  • Introduction
  • La maîtrise des systèmes de mesure : de quoi s’agit-il ? Qu’apporte-t-elle ? Comment s’intègre-t-elle dans la maîtrise statistique des processus ?
  • Le vocabulaire de la métrologie
  • Introduction au logiciel statistique
  • Inférence statistique et systèmes de mesure
  • Intervalle de confiance
  • Tests de comparaison
  • Technique des tests appariés
  • Les différentes techniques de l’analyse des systèmes de mesure
  • Vocabulaire de la métrologie basé sur le VIM
  • Résolution, biais et linéarité
  • Différence entre étalonnage et incertitude de mesure
  • Échantillonnage
  • Comparaison d’éléments du système de mesure
  • Etalonnage et maîtrise statistique de l’étalonnage
  • Etude d’incertitude (Gage R&R) : les bases
  • Le principe
  • Le calcul des variances de la mesure et des objets mesurés
  • Écart type total : méthodes de calcul
  • Les guardbands: calcul et mise en œuvre
  • Les indices R&R, Cpm et P/T
  • Les critères d’acceptation
  • Sources de variation, facteurs croisés et facteurs nichés
  • Etude d’incertitude : approfondissements
  • Plans d’expériences optimaux pour une étude d’incertitude
  • Le nombre de pièces nécessaire à une étude d’incertitude
  • Les cas des mesures destructrices
  • Cas de mesures nominales
  • Le principe
  • Les indices Kappa
  • Mise en œuvre

Pédagogie

Pédagogie active mêlant exposés, exercices et applications pratiques.
Chaque participant pourra mettre en oeuvre les applications dans le logiciel de son choix parmi Minitab, JMP ou StatGraphics.

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    • Exploiter des résultats d’essais inter laboratoires
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